TS Science
Product
FTIR Microscopes
IRT-7X for FTIR Microscope
IRT-7X
Fast Imaging & Multi-channel Micro FTIR
16-channel MCT · Fast Mapping · Chemical Imaging · Particle Analysis
IRT-7X는 미세 영역의 Chemical Information을 빠르게 Mapping하고 Imaging하기 위해 개발된 JASCO Multichannel Infrared Microscope입니다.
16-channel Linear Array MCT Detector와 고감도 Mid-band MCT Detector를 하나의 System에 구성하여 빠른 Chemical Imaging과 정밀한 Point Measurement를 모두 수행할 수 있습니다.
많은 측정점을 빠르게 Chemical Image로
16-channel Detector
16개의 Linear Array MCT Channel을 동시에 처리하여 빠른 Mapping을 수행합니다.
High S/N Point Analysis
Mid-band MCT를 함께 탑재하여 작은 영역의 정밀한 Point Measurement에도 대응합니다.
Real-time Imaging
Mapping 중에도 Spectrum과 Chemical Image를 실시간으로 확인할 수 있습니다.
Automated Analysis
Target Detection, Automatic Stage 및 Particle Analysis를 이용해 반복 분석을 지원합니다.
16-channel Linear Array를 이용한 고속 IR Imaging
16개의 Detector Channel을 동시에 처리
IRT-7X의 Linear Array MCT Detector는 16개의 Channel에서 취득되는 IR Signal을 병렬로 처리합니다.
각 Channel에는 독립적인 Auto-Gain 기능이 적용되어 Channel별 Signal을 최적화하고, 많은 Measurement Point가 필요한 Area Mapping과 Chemical Imaging을 효율적으로 수행합니다.
FTIR Rapid Scan Measurement와 조합하면 설정 조건에 따라 최대 160 Hz의 고속 데이터 취득이 가능합니다.
빠른 Imaging과 고감도 Point Analysis를 하나의 System에서
Standard Spectral Range:
7,800 ~ 650 cm-1
16개의 MCT Element를 이용하여 여러 위치의 IR Signal을 빠르게 취득하므로 넓은 영역의 Mapping, Particle Distribution 및 Chemical Imaging에 적합합니다.
Standard Pixel Resolution은 12.5 × 12.5 µm이며, Measurement Objective 구성에 따라 다른 Pixel Resolution도 선택할 수 있습니다.
Standard Spectral Range:
7,800 ~ 550 cm-1
IRT-5X에서도 사용되는 고감도 Mid-band MCT Detector를 함께 구성하여, 작은 Measurement Area에서 보다 정밀한 Spectrum이 필요한 분석에 사용합니다.
Mapping Speed가 필요한 경우에는 Linear Array Detector, 높은 Sensitivity가 필요한 Point Analysis에는 Mid-band MCT를 선택하여 사용할 수 있습니다.
IRT-7X의 핵심 숫자
MCT Detector
CMOS Camera
Pixel Resolution
Sample Thickness
측정하기 전에 Target을 정확하게 찾습니다.
5 MP Camera + Improved Observation Optics
IRT-7X는 500만 화소 CMOS Camera와 개선된 Observation Optical System을 이용하여 미세 이물, Particle 및 Sample Structure를 선명하게 관찰할 수 있도록 설계되었습니다.
Electric Iris, Auto Brightness 및 Auto Focus 기능을 이용하여 다양한 Sample에서 Measurement Target을 보다 쉽게 확인할 수 있습니다.
Mapping이 끝날 때까지 기다리지 않고 결과를 확인
Spectrum + Measurement Position + Chemical Image
Mapping Measurement가 진행되는 동안 측정 Spectrum, Microscope Image상의 Measurement Position, 지정 Wavenumber의 Chemical Image를 실시간으로 확인할 수 있습니다.
특정 Component의 분포가 어느 위치에서 나타나는지 Measurement 진행 과정에서 확인할 수 있어 Mapping Data의 상태를 빠르게 판단할 수 있습니다.
미세 이물을 찾는 과정부터 측정까지 자동화
IQ IR NAV
Observation Image에서 Measurement Target 후보를 Real-time으로 검출하고 좌표를 자동 등록하여 측정합니다.
IR Advanced Search NAV
Size, Circularity 등의 Sample 특징을 기준으로 Target을 분류하고 Spectral Search 결과를 Observation Image에 표시합니다.
Spiral Imaging
현재 Field of View를 기준으로 주변 영역의 Image를 Spiral 형태로 연속 취득하여 위치를 모르는 미세 이물을 탐색합니다.
Automatic XYZ Stage
Point, Line, Multi-point 및 Area Mapping Measurement를 자동 Stage로 수행합니다.
Auto-Correct
Transmission Measurement에서 Condenser Mirror를 자동 조정하여 Measurement Condition을 최적화할 수 있습니다.
Hardware Navigation
Condenser Mirror, Stage Spacer, ATR / RAS Accessory 등의 교환 과정을 Navigation으로 안내합니다.
Chemical Identification과 Particle Shape를 함께 분석
JASCO Particle Analysis
IRT-7X의 JASCO Particle Analysis는 Observation Image와 Chemical Image를 이용하여 각각의 Particle을 분류하고 Chemical Component와 Shape Information을 함께 분석합니다.
Particle별 Size, Area, Circularity 및 Aspect Ratio 등의 Parameter를 계산하여 Histogram, Frequency Distribution 및 Component Ratio 등의 형태로 정리할 수 있습니다.
미세 이물 분석뿐 아니라 Microplastic과 같이 많은 Particle을 Chemical Component별로 분류해야 하는 Application에 활용할 수 있습니다.
JASCO의 IR Beam Scanning Technology
Stage Scan과 다른 방식의 Chemical Mapping
IQ Mapping은 Galvanometer Mirror를 이용하여 IR Beam을 Sample Surface 위에서 2차원으로 Scan하여 Spectrum을 취득하는 JASCO Mapping Technology입니다.
Transmission, Reflection뿐 아니라 ClearView ATR과 조합한 ATR Mapping에도 활용할 수 있습니다.
ATR Crystal이 Sample과 접촉된 상태에서 Chemical Image와 실제 Sample Image를 Overlay할 수 있어, 접촉 과정에서 이동하기 쉬운 Liquid 내부 Particle 등의 분석에도 유용합니다.
Sample에 따라 다양한 Micro FTIR Measurement
Transmission
얇은 Film, Cross-section 및 IR-transparent Sample의 Micro Area를 분석합니다.
Reflection
PCB, Metal Surface 및 Reflective Sample의 미세 영역을 측정합니다.
ATR
표면 이물, Polymer 및 Transmission이 어려운 Sample을 Micro ATR 방식으로 측정합니다.
RAS
금속 기판 위의 Thin Film 및 Surface Layer 분석으로 확장할 수 있습니다.
IR Polarization
Polarization에 따른 Spectrum 변화를 이용하여 Molecular Orientation 연구에 활용합니다.
VIS Polarization
Optional Visible Polarization Observation을 이용하여 Birefringence 및 Orientation 관련 Sample Structure를 관찰할 수 있습니다.
최대 40 mm 두께 Sample의 Reflection Measurement
Electronic Part와 두꺼운 Sample도 Microscope Stage에
Stage Spacer와 Condenser Mirror를 제거하는 구성에서는 최대 40 mm 두께 Sample의 Reflection Measurement가 가능합니다.
PCB, Electronic Component 및 일반적인 두꺼운 Solid Sample에서 필요한 위치를 직접 관찰하고 Micro FTIR Measurement를 수행할 수 있습니다.
IRT-7X가 강점을 가지는 분석
Electronic Foreign Material
PCB 및 Electronic Part에서 발견된 미세 이물의 위치와 Chemical Component를 분석합니다.
Multilayer Film
Packaging 및 Polymer Film의 Layer별 Chemical Composition을 Chemical Image로 분석합니다.
Microplastic
다수 Particle의 Polymer 종류와 Size / Shape Distribution을 함께 분석합니다.
Surface Contamination
Rubber, Metal 또는 Material Surface에 존재하는 미세 Contamination을 분석합니다.
Polymer Orientation
Visible / IR Polarization을 이용하여 Polymer 및 Film의 Molecular Orientation을 평가합니다.
Particle Mapping
넓은 영역에 분포하는 Particle을 Mapping하고 Component별 Distribution을 확인합니다.
Liquid Foreign Particle
ClearView ATR과 IQ Mapping을 이용하여 Liquid 내 Particle을 Chemical Imaging합니다.
Material Development
서로 다른 Component의 Spatial Distribution과 Material Structure를 Chemical Image로 비교합니다.
찾고, 측정하고, 분포까지 확인
Sample
Target
Mapping
Component
Image
IRT-7X 주요 사양
| 항목 | IRT-7X |
|---|---|
| Measurement | Transmission / Reflection |
| Standard Detector | 16 ch Linear Array Mid-band MCT 7,800 ~ 650 cm-1 Mid-band MCT 7,800 ~ 550 cm-1 |
| Optional Detector | DLATGS : 7,800 ~ 400 cm-1 InGaAs : 12,000 ~ 4,000 cm-1 |
| Detector Configuration | 최대 3 Detector 장착 Software Switching |
| S/N Ratio Linear Array |
1500 : 1 지정된 JASCO 시험 조건 기준 |
| S/N Ratio Mid-band MCT |
12,000 : 1 지정된 JASCO 시험 조건 기준 |
| Linear Array Pixel | Standard : 12.5 × 12.5 µm Option : 6.25 × 6.25 µm / 20 × 20 µm |
| Observation | IQ Monitor 5 MP CMOS Camera Electric Iris |
| Objective Mirror | ×16 Standard ×10 / ×32 Option |
| Automatic Stage | X : 100 mm Y : 75 mm Z : 30 mm 1 µm Step |
| Auto Focus | Standard |
| ATR Pressure Sensor | Standard |
| Mapping | Area / ATR / Line / Multi-point |
| Measurement Option | ATR / RAS / IR Polarization |
| Observation Option | VIS Polarization Observation |
| Compatible FTIR | FT/IR-4X / FT/IR-6X / FT/IR-8X |
| Dimensions / Weight | 350(W) × 610(D) × 565(H) mm Approx. 56 kg |
※ InGaAs Detector 사용 시 FTIR 본체의 Near-IR Extension Option이 필요합니다.
※ FT/IR-X와 IRT-7X의 고속 Linear Array Measurement 구성에는 Rapid Scan Option 등 System Configuration 확인이 필요합니다.
FT/IR-X Series와 결합한 High-speed Micro FTIR
FT/IR-4X · FT/IR-6X · FT/IR-8X + IRT-7X
분석 목적에 따라 FT/IR-X Series 본체와 IRT-7X의 Detector, Objective 및 Measurement Accessory를 구성하여 Micro FTIR System을 설계할 수 있습니다.
단일 미세 이물의 정성 분석부터 넓은 영역의 Chemical Imaging, Particle Classification 및 ATR Mapping까지 하나의 Platform으로 확장할 수 있습니다.
많은 미세 영역을 빠르게 분석해야 하나요?
Sample 크기와 형태, Mapping Area, 예상 Particle 수, 필요한 Spatial Resolution 및 분석 처리량을 알려주시면 IRT-7X와 FT/IR-X Series의 적합한 구성을 검토해드립니다.
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