TS Science
Product
FTIR Microscopes
[IRT] SliceMaster | Multilayer Film · Cross-section Preparation
SliceMaster Series
보이지 않던 내부 Layer를 Cross-section으로 노출
Multilayer Film · Laminate · Coating · Pellet · Cross-section Analysis
Multilayer Film이나 Laminate는 Sample 표면만 측정해서는 내부에 존재하는 각각의 Layer를 개별적으로 분석하기 어려울 수 있습니다.
SliceMaster Series는 Film, Laminate, Polymer, Pellet 등의 Sample을 정밀하게 절단하여 내부 Cross-section을 노출하고, FTIR Microscope에서 원하는 Micro Area를 직접 분석할 수 있도록 합니다.
표면만 보면 내부 Layer의 Chemical Information을 놓칠 수 있습니다.
Hidden Layers
Multilayer Film 내부에는 서로 다른 Polymer와 Adhesive Layer가 존재할 수 있습니다.
Thin Cross-section
각 Layer를 FTIR Microscope로 구분하려면 내부 구조가 충분히 노출된 Cross-section이 필요합니다.
Local Identification
절단된 단면에서 관심 위치를 직접 선택하여 Spectrum을 비교할 수 있습니다.
단순히 Sample을 자르는 것이 목적이 아닙니다.
SliceMaster의 목적은 Film이나 Laminate의 내부 단면을 FTIR Microscope로 관찰할 수 있는 형태로 노출하는 것입니다.
절단된 Cross-section에서 Layer, Defect, Particle 또는 서로 다른 Material 영역을 선택한 뒤 Transmission 또는 적합한 Micro FTIR Measurement를 통해 Chemical Information을 비교할 수 있습니다.
Multilayer Sample에서 각 영역의 Chemical Information까지
Cut
SliceMaster로 Sample을 원하는 Angle로 절단합니다.
Expose
내부 Layer와 Cross-section을 노출합니다.
Observe
Microscope Image에서 각 Layer와 Target을 확인합니다.
Measure
원하는 Micro Area의 IR Spectrum을 측정합니다.
Identify
Spectrum을 비교하여 영역별 Chemical Difference를 확인합니다.
절단된 단면에서 원하는 위치를 선택하여 Spectrum 비교
Cross-section을 노출한 후에는 Microscope Observation Image에서 관심 영역을 직접 선택하고, 서로 다른 위치의 IR Spectrum을 비교할 수 있습니다.
01 · Cross-section
절단을 통해 Sample 내부 구조와 서로 다른 영역을 노출합니다.
02 · Target Selection
확대 Observation Image에서 분석하고 싶은 두 위치를 직접 선택합니다.
03 · Spectrum Comparison
선택한 위치별 Spectrum 차이를 통해 Chemical Composition의 차이를 비교할 수 있습니다.
Sample과 필요한 Cross-section에 따라 Cutting Tool을 선택
HW-1은 SliceMaster Series 중 가장 유연하게 Cutting Angle을 조정할 수 있는 모델입니다.
Vertical 방향에서 45° 방향까지 조정할 수 있어 Film, Laminate 및 다양한 Sample의 Cross-section을 목적에 맞게 노출할 수 있습니다.
HS-1은 Sample을 고정된 90° 방향으로 절단하여 수직 Cross-section을 만드는 모델입니다.
Film 또는 Laminate의 원래 두께 방향 구조를 직관적으로 관찰하고 Layer별로 분석할 때 활용할 수 있습니다.
HK-1은 고정된 15° Angle로 Film과 Laminate를 절단합니다.
낮은 Cutting Angle을 이용하면 실제 Layer 두께보다 더 넓은 노출 Surface를 만들 수 있어, 얇은 Layer를 Microscope에서 선택하고 측정하기 쉽게 만들 수 있습니다.
TS-10은 Tablet, Pellet, Seed, Caplet처럼 형상이 일정하지 않은 Sample을 고정하기 위한 Holder를 포함합니다.
Sample Surface를 평탄하게 노출하거나 Thin Section을 제작하여 내부 구조를 Micro FTIR로 분석할 수 있습니다.
얇은 Layer를 더 넓게 노출하면 Micro FTIR 분석이 쉬워집니다.
매우 얇은 Layer는 수직으로 절단했을 때 Microscope에서 선택할 수 있는 영역이 너무 좁을 수 있습니다. Angled Cutting은 같은 Layer를 더 넓은 Surface로 노출시켜 Measurement Targeting을 쉽게 할 수 있습니다.
90° Vertical Section
원래 Layer Thickness를 그대로 반영하는 Cross-section이 필요할 때 적합한 방식입니다.
15° Angled Section
얇은 Layer를 사선으로 절단하면 노출 Surface가 더 넓어져 Microscope에서 각 영역을 구분하기 쉬워집니다.
SliceMaster를 활용할 수 있는 Sample
Multilayer Film
여러 Polymer Layer로 구성된 Film의 Cross-section을 제작하여 Layer별 Composition을 분석합니다.
Packaging Material
Packaging Film과 Laminate의 내부 구조를 노출하여 각 Layer를 비교합니다.
Coating Layer
Substrate 위에 형성된 Coating과 Surface Layer의 단면을 분석합니다.
Adhesive Layer
Laminate 내부에 존재하는 Adhesive Layer를 노출하여 Chemical Composition을 확인합니다.
Tablet
Tablet 내부를 절단하여 특정 위치의 Component와 Distribution을 분석합니다.
Pellet
Pellet이나 불규칙한 Solid를 평탄하게 절단하여 내부 영역을 측정합니다.
Polymer Material
Polymer Sample 내부의 Phase나 Defect 영역을 Cross-section에서 비교합니다.
Fiber / Soft Material
작은 Fiber나 Soft Sample의 내부 구조를 노출하여 Micro Area를 분석합니다.
목적에 맞는 SliceMaster 선택
| Model | Cutting Style | Recommended Sample | 주요 목적 |
|---|---|---|---|
| HW-1 | Adjustable Angle | Film · Laminate | 다양한 Angle의 Cross-section |
| HS-1 | Fixed 90° | Film · Polymer | Vertical Cross-section |
| HK-1 | Fixed 15° | Thin Film · Laminate | 얇은 Layer의 노출 면적 확대 |
| TS-10 | Multi-angle | Tablet · Pellet · Irregular Solid | 내부 Surface / Section 노출 |
SliceMaster + FTIR Microscope
SliceMaster가 분석 결과를 만드는 것은 아닙니다. 정확한 Cross-section을 만들어 FTIR Microscope가 원하는 위치에 접근할 수 있도록 하는 Sample Preparation Tool입니다.
절단된 Sample을 IRT Series에서 관찰하고 Point, Line 또는 Area Measurement를 적용하면 Layer별 Chemical Information과 공간적 차이를 분석할 수 있습니다.
실제 Cutting Workflow 확인
보이지 않는 Layer는 먼저 노출해야 분석할 수 있습니다.
Multilayer Film이나 Laminate의 Chemical Structure를 분석할 때 좋은 FTIR Spectrum만큼 중요한 것이 어떤 단면을 어떻게 만들어 측정할 것인가 입니다.
SliceMaster는 Sample의 내부 구조를 정밀하게 노출하여 FTIR Microscope가 원하는 Layer와 Micro Area를 선택할 수 있도록 합니다.
즉, Cut → Expose → Observe → Identify 로 이어지는 Micro FTIR Sample Preparation Workflow를 제공합니다.
Multilayer Film의 각 Layer를 개별적으로 분석하고 싶으신가요?
Sample 종류, Layer 두께, 필요한 Cross-section 형태와 Measurement Area를 알려주시면 적합한 SliceMaster와 Micro FTIR 분석 방법을 검토해드립니다.
