Product

UV-Visible/NIR Spectrophotometers

[UV]Absolute Reflectance

 

JASCO | Absolute Reflectance Accessories

 

광학 렌즈, 디스플레이의 반사 방지(AR) 코팅, 반도체 웨이퍼 및 신소재 연구에 필수적인 절대 반사율(Absolute Reflectance) 측정 액세서리입니다. 기준 거울(Reference mirror)의 노후화에 영향을 받는 '상대 반사'와 달리, 광원 자체를 100%로 설정하여 시료의 순수한 반사율을 오차 없이 완벽하게 측정합니다. 구동 방식에 따라 동기형(Synchronous), 비동기형(Asynchronous), 자동화형(Automated) 시스템을 제공합니다.

 

 

절대 반사(Absolute Reflectance) 측정의 원리

절대 반사는 측정 전 검출기(Detector)를 광원과 일직선상에 놓아 입사광을 직접 받아 100% 베이스라인을 측정합니다. 이후 시료를 원하는 입사각(θ)으로 회전시키고, 검출기는 빛이 반사되는 위치(2θ)로 회전시켜 반사된 빛의 양을 측정합니다. 이 V-N 광학계 방식을 통해 외부 요인의 간섭 없는 시료 고유의 '절대 반사율'을 얻을 수 있습니다.

절대반사 원리 다이어그램 1

[그림 해설 (일본어 번역)]
100%ライン測定 (100% 베이스라인 측정): 시료 없이 광원(입사광)을 적분구(검출기)가 직접 받아 100% 기준을 잡는 모습
サンプル測定 (시료 측정): 시료를 각도 θ만큼 기울이고, 적분구를 2θ 위치로 이동시켜 반사광을 측정하는 모습
入射光: 입사광 (Incident Light) / 試料: 시료 (Sample) / 積分球: 적분구 (Integrating Sphere)

절대반사 원리 다이어그램 2

[그림 해설 (일본어 번역)]
• 각도 회전 메커니즘을 나타냅니다. 시료의 입사각을 원하는 각도로 설정하고, 투과(Transmittance) 또는 반사(Reflectance) 빛을 각도별로 정밀하게 추적하여 측정하는 비동기/동기 회전 구조입니다.

 

1. Synchronous Type (동기형 절대 반사 액세서리)

시료의 회전각도(θ)에 맞춰 검출기가 항상 반사각(2θ) 위치로 기어에 의해 물리적으로 연동(동기화)되어 움직이는 시스템입니다. 가장 표준적인 형태의 절대 반사 측정 방식입니다.

Synchronous Absolute Reflectance
Model ARV-913 (UV-Vis) ARN-914 (UV-Vis-NIR) ARN-915i (UV-Vis-NIR)
Compatible Base Unit V-750 / V-760 V-770 (PbS 검출기) V-780 (InGaAs 검출기)
Incident Angle Range 5° ~ 60°
Movement Type 시료와 검출기 연동 이동 (θ / 2θ 물리적 연동)
Angle Setting 2.5° step Manual

 

2. Asynchronous Type (비동기형 절대 반사 액세서리)

시료의 회전과 검출기의 회전을 독립적으로(비동기) 설정할 수 있는 시스템입니다. 반사율뿐만 아니라 임의의 각도에서의 투과율 측정, 산란광 분석 등 다목적 광학 특성 연구에 적합합니다.

Asynchronous Absolute Reflectance
Model ARSV-916 (UV-Vis) ARSN-917 (UV-Vis-NIR) ARSN-918i (UV-Vis-NIR)
Compatible Base Unit V-750 / V-760 V-770 (PbS 검출기) V-780 (InGaAs 검출기)
Incident Angle Range 5° ~ 60°
Movement Type 시료 및 검출기 독립 설정 (수동 조작)
Angle Setting

Sample stage : 0.1° step Manual

Detector stage : 1° step Manual

 

3. Automated Type (전자동 절대 반사 액세서리)

모터를 통해 각도를 PC 소프트웨어로 제어하는 최고급 자동화 시스템입니다. 설정한 각도 스텝에 따라 입사각을 자동으로 변경하며 연속 측정할 수 있어, 파장(Wavelength)과 각도(Angle)에 따른 반사율/투과율 3D 데이터를 손쉽게 도출합니다.

Automated Absolute Reflectance
Model ARMV-919 (UV-Vis) ARMN-920 (UV-Vis-NIR) ARMN-921i (UV-Vis-NIR)
Compatible Base Unit V-750 / V-760 V-770 (PbS 검출기) V-780 (InGaAs 검출기)
Incident Angle Range 5° ~ 60°
Movement Type 소프트웨어 자동 제어(Motorized)
Key Feature 파장 vs 각도 3D 매핑
Angle Setting 0.1° step Automatic

TS Science는 JASCO의 정품 액세서리에 대한 전문적인 기술 지원을 제공합니다. 편광(Polarizer) 필터 추가 옵션이나 코팅막/렌즈 특성 분석 등 고도화된 측정이 필요하시다면 언제든 기술영업부로 문의해 주십시오.

LIST

약관

약관내용