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Product

FTIR Spectroscopy

FT/IR-4X

JASCO FT/IR-X SERIES

FT/IR-4X
Routine & Research FTIR

일상적인 소재 분석부터 연구용 확장까지 대응하는 컴팩트 FTIR

JASCO FT/IR-4X 연구용 FTIR 분광기

JASCO FT/IR-4X는 일반적인 소재의 정성·정량 분석, ATR 측정 및 품질관리부터 Gas, 미세 이물, IR Microscope 및 Rapid Scan까지 확장할 수 있는 Research-grade FTIR 시스템입니다.

컴팩트한 본체 안에 200 mm 폭의 넓은 Sample Compartment를 갖추고 있어 일반적인 FTIR 액세서리는 물론 다양한 연구용 액세서리와 조합할 수 있으며, 분석 목적이 확장되더라도 시스템을 유연하게 구성할 수 있습니다.

35,000 : 1 S/N · 0.4 cm⁻¹ Resolution · Rapid Scan Option · Micro FTIR · 200 mm Sample Compartment

APPLICATION

FT/IR-4X로 어떤 분석을 할 수 있나요?

Routine FTIR 분석뿐 아니라 시료 형태와 연구 목적에 따라 다양한 Sampling Accessory와 Microscope를 조합할 수 있습니다.

Materials Analysis

Polymer, Film, Powder, Liquid 등 다양한 소재의 화학적 결합 및 성분 분석

ATR & QC

최소한의 전처리로 빠르게 측정하고 원료 및 제품의 품질을 비교·관리

Micro / Contamination

IR Microscope와 결합하여 미세 이물 및 국소 영역의 화학 성분 확인

Gas Analysis

Gas Cell과 결합하여 가스의 특징적인 IR Spectrum과 농도 변화를 측정

Rapid Reaction

Rapid Scan 옵션을 이용하여 비교적 빠르게 변화하는 반응의 Spectrum 변화를 추적

FEATURED APPLICATION 01

ATR & Routine Material Analysis

시료 전처리를 줄이고 빠르게 확인하는 FTIR

ATR은 고분자, Film, Rubber, Powder 및 다양한 고체 소재를 간편하게 측정할 수 있어 연구와 QC 분야에서 가장 널리 활용되는 FTIR 측정 방법 중 하나입니다.

FT/IR-4X는 전용 ATR 및 다양한 iQX Accessory와 결합하여 장비 운용을 단순화할 수 있으며, 소재의 정성 분석과 Spectrum 비교에 활용할 수 있습니다.

Polymer · Film · Powder · Rubber · QC

FTIR Accessories 자세히 보기 →

FEATURED APPLICATION 02

Micro FTIR & Contamination Analysis

눈에 보이는 미세 이물의 화학적 성분을 FTIR로 확인

FT/IR-4X는 JASCO IRT Series IR Microscope와 연결하여 일반적인 Bulk Sample 분석에서 미세 영역의 Spectrum 측정으로 확장할 수 있습니다.

제품 또는 소재 표면에서 발견되는 미세 이물, Polymer Particle, Film 및 Layer의 특정 영역을 선택하여 FTIR Spectrum을 측정하고 Library Search를 통해 화학적 특성을 확인할 수 있습니다.

Particle · Contamination · Micro Sample · Chemical Identification

FTIR Microscope 자세히 보기 →

PERFORMANCE

Routine 분석을 넘어 연구용 측정까지

35,000 : 1 Signal-to-Noise

24-bit A/D converter, 고휘도 광원, 저Noise 전자회로 및 고효율 광학계를 기반으로 35,000 : 1의 S/N을 제공합니다.

일반적인 소재 분석뿐 아니라 미량 시료 또는 IR Microscope와 같이 측정 광량이 제한되는 조건에서도 안정적인 Spectrum 측정을 지원합니다.

GAS & HIGH RESOLUTION

최대 0.4 cm⁻¹ 분해능

Gas Spectrum의 인접 Peak까지 구분

FT/IR-4X는 최대 0.4 cm⁻¹의 분해능을 제공하며, 일반적인 Condensed-phase Sample뿐 아니라 Gas 시료의 비교적 좁은 흡수 Peak도 측정할 수 있습니다.

Gas Cell과 조합하면 특정 가스의 정성 분석 및 농도 측정 시스템으로 구성할 수 있습니다.

FTIR-4X Methane Gas High Resolution Spectrum

FLEXIBILITY

하나의 FTIR에서 다양한 연구 시스템으로 확장

JASCO FTIR-4X 연구용 광학 시스템 및 확장 구성

FT/IR-4X는 Mid-IR 기본 측정뿐 아니라 검출기, Beam Splitter 및 Optical Window 구성을 변경하여 Near-IR 또는 Far-IR 영역으로 측정 범위를 확장할 수 있습니다. MCT, InGaAs 등 추가 검출기와 IR Microscope, 대형 Gas Cell 및 다양한 Sampling Accessory를 조합할 수 있습니다.

WHY FT/IR-4X

FT/IR-4X의 핵심 기능

35,000 : 1 S/N

Routine 소재 분석부터 Microscope와 같은 저광량 측정까지 안정적인 Spectrum 측정을 지원합니다.

0.4 cm⁻¹ Resolution

일반적인 소재 측정뿐 아니라 높은 분해능이 필요한 Gas Spectrum에도 대응할 수 있습니다.

Rapid Scan · up to 80 spectra/sec

Rapid Scan 옵션을 이용하면 16 cm⁻¹ 조건에서 최대 80 spectra/sec로 빠르게 변화하는 반응을 측정할 수 있습니다.

200 mm Sample Compartment

컴팩트한 본체에서도 200 mm 폭의 Sample Compartment를 제공하여 다양한 FTIR 액세서리를 사용할 수 있습니다.

Optional Detectors

MCT, InGaAs 등의 추가 검출기를 이용하여 감도 및 측정 영역을 연구 목적에 맞게 확장할 수 있습니다.

Wide Spectral Extension

Near-IR 및 Far-IR용 Optical Component를 구성하여 기본 Mid-IR 이상의 파수 영역으로 측정을 확장할 수 있습니다.

RELIABILITY

안정적인 반복 측정을 위한 Interferometer

JASCO FTIR 밀폐형 Interferometer와 Corner Cube Mirror

Sealed Interferometer & Corner-Cube Mirror

FT/IR-4X에는 밀폐형 Interferometer와 Corner-Cube Mirror 구조가 적용되어 광학 정렬 안정성을 유지하도록 설계되어 있습니다.

내부 Temperature / Humidity Sensor를 이용하여 기기 상태를 모니터링하며, 안정적인 반복 측정을 지원합니다.

COMPACT & PRACTICAL

연구실 공간과 실제 운용을 고려한 설계

386 mm 폭의 컴팩트한 Research FTIR

FT/IR-4X는 386(W) × 479(D) mm 크기로 설계되어 제한된 실험실 공간에서도 설치가 용이합니다.

기존 모델 대비 본체 크기를 줄이고 소비전력도 약 30% 절감하면서 연구용 FTIR에 필요한 확장성과 200 mm Sample Compartment를 유지합니다.

Compact Design · Lower Power · Large Sample Compartment

SOFTWARE

Spectra Manager™

Spectra Manager™를 이용하여 FTIR 측정, Spectrum 비교, 데이터 처리 및 정량 분석을 하나의 소프트웨어 환경에서 수행할 수 있습니다.

Navigation 기능을 이용하면 분석 목적에 맞는 측정 조건 설정을 지원받을 수 있으며, 반복적으로 사용하는 조건은 Method로 저장하여 이후 측정에 다시 활용할 수 있습니다.

장비 Self-Diagnosis 및 Validation 기능도 지원하여 Routine QC부터 연구 측정까지 일관된 Workflow를 구성할 수 있습니다.

JASCO Spectra Manager FTIR Software

SPECIFICATION

FT/IR-4X 주요 사양

JASCO FT/IR-4X
Standard Wavenumber Range	7,800 – 350 cm⁻¹
Optional Wavenumber Range	11,500 – 375 cm⁻¹ 6,000 – 220 cm⁻¹ 6,000 – 50 cm⁻¹
Maximum Resolution	0.4 cm⁻¹
Signal-to-Noise Ratio	35,000 : 1
Rapid Scan	Option / Up to 80 spectra/sec
Sample Compartment Width	200 mm
IR Microscope	Compatible
Dimensions	386(W) × 479(D) × 254(H) mm