Product

FTIR Spectroscopy

FT/IR-6X

JASCO FT/IR-X SERIES

FT/IR-6X
Advanced Research & In-situ FTIR

반응을 측정하고, 환경을 제어하고, 측정 영역을 확장하는 연구용 FTIR

JASCO FT/IR-6X 연구용 적외선 분광기

JASCO FT/IR-6X는 일반적인 Mid-IR 분석을 넘어 In-situ 반응 분석, Gas 측정, 반도체 및 박막 연구, Near-IR / Far-IR 영역 확장 등 다양한 연구 목적에 대응할 수 있도록 설계된 고성능 연구용 FTIR 플랫폼입니다.

시료와 연구 목적에 따라 Vacuum optical system, 측정 파수 영역 확장, Rapid Scan, IR Microscope 및 다양한 환경 제어 액세서리를 조합하여 하나의 FTIR 시스템을 다양한 실험 환경으로 확장할 수 있습니다.

47,000 : 1 S/N  ·  0.25 cm⁻¹ Resolution  ·  Rapid Scan  ·  Vacuum Option  ·  25,000 – 20 cm⁻¹ Extension
FT/IR-6X로 어떤 분석을 할 수 있나요?

FT/IR-6X의 핵심은 단순한 기본 성능보다 연구 목적에 따라 광학계와 액세서리를 확장할 수 있다는 점입니다.

01
In-situ Reaction

온도, Gas, 전기화학 등 외부 조건 변화에 따른 반응 과정을 Spectrum 변화로 추적합니다.

02
Gas Analysis

Gas Cell과 FTIR을 결합하여 가스 성분 확인 및 시간에 따른 농도 변화를 측정합니다.

03
Semiconductor

Silicon Wafer, Thin Film, Surface 및 Contamination과 관련된 분광 분석에 적용할 수 있습니다.

04
Far-IR / Wide Range

광학계를 확장하여 일반 Mid-IR을 넘어 Near-IR 및 Far-IR 영역의 연구에 대응합니다.

05
Micro Analysis

IRT Series IR Microscope와 결합하여 미세 이물 및 특정 영역의 Spectrum과 Mapping을 측정합니다.

In-situ & Reaction Monitoring
측정 조건을 바꾸면서 반응 과정을 FTIR로 추적

FTIR에 Heating Cell, Gas Flow System, Electrochemical Cell 등 다양한 환경 제어 액세서리를 결합하면 온도, 분위기 Gas, 전위 등의 외부 조건에 따라 시료의 분자 구조와 화학 결합이 어떻게 변화하는지 시간에 따라 관찰할 수 있습니다.

Rapid Scan 옵션은 비교적 빠르게 진행되는 반응 과정의 Spectrum 변화를 연속적으로 측정하는 실험으로 FT/IR-6X의 활용 범위를 확장합니다.

Temperature · Gas · Electrochemistry · Rapid Scan
FTIR In-situ Solution 자세히 보기 →
Semiconductor & Thin Film Analysis
Wafer부터 박막과 미세 오염까지

FTIR은 Silicon Wafer와 반도체 소재의 화학적 특성을 평가하는 데 활용할 수 있으며, Transmission, Reflection, ATR 및 Microscope 측정법을 시료에 맞게 구성할 수 있습니다.

FT/IR-6X의 Vacuum 및 확장 광학계, IR Microscope와 같은 옵션을 조합하면 박막, 미세 이물 및 정밀 분광 측정으로 분석 범위를 넓힐 수 있습니다.

Si Wafer · Thin Film · Surface · Contamination
반도체 분석 Solution 자세히 보기 →
안정적인 Spectrum을 위한 광학 설계
JASCO FTIR Corner Cube Interferometer
Corner-Cube Michelson Interferometer

FTIR 측정의 재현성과 안정성은 Interferometer의 정밀한 구동에서 시작됩니다.

FT/IR-6X에는 Corner-Cube mirror를 이용한 Michelson interferometer가 적용되어 있으며, 광로의 정렬 안정성을 유지하도록 설계되어 있습니다.

DSP 기반의 AccuTrac™ 제어와 진동 영향을 줄이기 위한 optical bench 구조를 통해 Moving Mirror를 안정적으로 제어합니다.

대기 흡수의 영향을 줄이는 Vacuum Optical System
H₂O와 CO₂의 영향을 줄인 정밀 분광 측정

적외선 영역에서는 대기 중의 Water Vapor와 CO₂가 FTIR Spectrum에 흡수 신호로 나타날 수 있습니다.

FT/IR-6X는 Full 또는 Partial Vacuum Optical System을 옵션으로 구성할 수 있어 대기에 의한 영향을 효과적으로 줄이고 미약한 흡수 신호를 보다 안정적으로 관찰할 수 있습니다.

Vacuum 환경은 특히 Low Concentration Gas, Thin Film 및 Far-IR 측정과 같이 대기 흡수의 영향을 최소화해야 하는 분석에 유용합니다.

JASCO FTIR Vacuum Optical System
FT/IR-6X의 핵심 기능
47,000 : 1 Signal-to-Noise

높은 신호대잡음비를 기반으로 미약한 흡수 Peak를 안정적으로 확인하는 연구 측정에 대응합니다.

0.25 cm⁻¹ Resolution

일반적인 소재 분석뿐 아니라 높은 분광 분해능이 필요한 연구에 대응할 수 있습니다.

25,000 – 20 cm⁻¹ Extension

옵션 광학계를 통해 Near-IR부터 Far-IR까지 측정 영역을 확장할 수 있습니다.

Rapid Scan

빠르게 진행되는 반응의 Spectrum 변화를 추적하기 위한 Rapid Scan 측정으로 확장할 수 있습니다.

Vacuum Optical System

대기 중 H₂O 및 CO₂의 영향을 줄여 Gas, Thin Film 및 Far-IR 등 정밀 측정을 지원합니다.

IR Microscope

JASCO IRT Series와 연결하여 미세 영역 Spectrum 및 Chemical Imaging으로 확장할 수 있습니다.

장기간 안정적인 운용을 고려한 설계

FT/IR-6X의 Interferometer에는 습기에 대한 저항성이 높은 KRS-5 Window가 적용되어 있으며, 밀폐성이 높은 Interferometer housing을 통해 내부 광학계를 보호하도록 설계되어 있습니다. 온도 제어 DLATGS 검출기와 장수명 Ceramic Light Source도 장기간 안정적인 측정을 지원합니다.

Spectra Manager™

Spectra Manager™를 이용하여 장비 제어부터 Spectrum 측정, 데이터 처리와 분석을 하나의 소프트웨어 환경에서 수행합니다.

자주 사용하는 측정 조건을 Method로 저장할 수 있으며, Navigation 기능을 이용하면 사용 목적에 따라 측정 조건을 설정하는 과정도 단순화할 수 있습니다.

장비 기동 시 Self-Diagnosis를 수행하고, 내장된 NIST Traceable Polystyrene Film을 이용하여 장비 상태와 분석 결과의 신뢰성을 확인할 수 있습니다.

JASCO Spectra Manager FTIR Software

FT/IR-6X 주요 사양
JASCO FT/IR-6X
Standard Wavenumber Range 7,800 – 350 cm⁻¹
Optional Wavenumber Range 25,000 – 20 cm⁻¹
Maximum Resolution 0.25 cm⁻¹
Signal-to-Noise Ratio 47,000 : 1
Rapid Scan Option
Vacuum Optical System Option
IR Microscope Compatible
FT/IR-6X로 현재 연구를 어떻게 구성할 수 있을까요?

분석하고자 하는 시료와 온도, Gas, 전기화학, Vacuum 등의 실험 조건을 알려주시면 FT/IR-6X와 적합한 검출기 및 액세서리 구성을 검토해드립니다.

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약관

약관내용