Product

FTIR Spectroscopy

FT/IR-8X

JASCO FT/IR-X SERIES

FT/IR-8X
High Resolution & Time-resolved FTIR

높은 분해능과 시간분해 측정을 위한 JASCO 최상위 연구용 FTIR

JASCO FT/IR-8X 고분해능 연구용 적외선 분광기

JASCO FT/IR-8X는 높은 분광 분해능이 필요한 정밀 측정과 빠른 시간 변화가 발생하는 반응의 Time-resolved 분석을 위해 설계된 연구용 FTIR 플랫폼입니다.

최대 0.07 cm⁻¹의 분해능과 55,000 : 1의 Signal-to-Noise Ratio를 제공하며, Rapid Scan과 Step Scan 옵션을 이용하여 일반적인 정적 Spectrum 분석을 넘어 시간에 따른 동적 변화까지 연구할 수 있습니다.

55,000 : 1 S/N  ·  0.07 cm⁻¹ Resolution  ·  Rapid Scan  ·  Step Scan up to 10 ns  ·  Vacuum Option
FT/IR-8X는 어떤 연구에 적합한가요?

FT/IR-8X는 일반적인 FTIR 측정뿐 아니라 높은 분해능, 시간분해 측정 및 확장 광학계가 필요한 연구 환경에서 강점을 갖습니다.

01
High Resolution

서로 인접한 흡수 Peak와 미세한 Spectrum 구조를 구분해야 하는 고분해능 분광 연구

02
Time-resolved

Rapid Scan 및 Step Scan을 이용하여 시간에 따른 화학적 변화를 추적하는 동적 분석

03
In-situ Reaction

온도, Gas, 전기화학 등 외부 자극에 따른 반응 과정을 FTIR Spectrum으로 관찰

04
Vacuum / Far-IR

대기 흡수 영향을 줄이고 측정 영역을 Far-IR까지 확장하는 정밀 분광 연구

05
Semiconductor

Wafer, Thin Film 및 반도체 소재의 정밀 FTIR 분석과 Microscope 시스템 확장

Time-resolved FTIR
정적인 Spectrum을 넘어 시간에 따른 변화를 측정합니다.

일반적인 FTIR은 측정 시점의 Spectrum을 확인하는 데 사용하지만, 실제 화학 반응에서는 구조와 결합 상태가 시간에 따라 지속적으로 변화합니다.

FT/IR-8X는 Rapid Scan과 Step Scan 옵션을 이용하여 이러한 변화를 시간축으로 분석할 수 있습니다.

Rapid Scan은 비교적 빠르게 변화하는 반응을 연속적인 Spectrum으로 관찰하는 데 활용할 수 있으며, Step Scan은 외부 Trigger와 동기화할 수 있는 반복적인 transient 현상의 시간분해 측정에 적합합니다.

Rapid Scan · Step Scan · Trigger Synchronization · Transient Analysis
FTIR In-situ / Time-resolved Solution →
High Resolution Spectroscopy
최대 0.07 cm⁻¹ 분해능

서로 가까이 위치한 흡수 Peak를 분리하거나 미세한 분광 구조를 확인해야 하는 경우 높은 분해능이 필요합니다.

FT/IR-8X는 최대 0.07 cm⁻¹의 분해능을 제공하여 일반적인 소재 분석을 넘어 고분해능 Gas Spectrum 및 정밀 분광 연구로 측정 영역을 확장할 수 있습니다.

0.07 cm⁻¹ · Gas Phase · Fine Spectral Structure · Research Spectroscopy
FT/IR-6X와 8X는 무엇이 다른가요?

8X는 단순히 S/N이 높은 6X가 아니라, 고분해능 및 Step Scan과 같은 정밀 시간분해 연구에 초점을 둔 모델입니다.

FT/IR-6X
In-situ, Gas, 촉매, 소재 연구 및 Near-IR / Far-IR 확장성이 필요한 일반적인 Advanced Research에 적합
FT/IR-8X
0.07 cm⁻¹ High Resolution, Step Scan 및 nanosecond Time-resolved 측정처럼 보다 전문적인 분광 연구가 필요한 경우에 적합
고분해능 측정을 위한 안정적인 광학 플랫폼
JASCO FTIR Corner Cube Interferometer
Corner-Cube Michelson Interferometer

높은 분해능의 FTIR 측정에서는 Moving Mirror의 위치 제어와 Interferometer의 안정성이 중요합니다.

FT/IR-8X는 Corner-Cube Mirror 기반의 Michelson Interferometer와 DSP 기반 AccuTrac™ 제어 기술을 이용하여 정밀한 Mirror 구동과 안정적인 광학 정렬을 지원합니다.

이러한 광학 플랫폼은 0.07 cm⁻¹ 고분해능 측정 및 Step Scan과 같은 고급 측정 기능의 기반이 됩니다.

대기 영향을 줄이는 Vacuum Optical System
H₂O 및 CO₂ 흡수를 최소화한 정밀 측정

대기 중 Water Vapor와 CO₂는 적외선 Spectrum에 흡수 Peak를 발생시키며, 미약한 신호 또는 Far-IR 측정에서는 분석 결과에 영향을 줄 수 있습니다.

FT/IR-8X는 Full 또는 Partial Vacuum Optical System을 옵션으로 구성할 수 있어 대기 흡수의 영향을 효과적으로 줄일 수 있습니다.

특히 Low Concentration Gas, Thin Film 및 Far-IR과 같이 Background 영향 관리가 중요한 정밀 측정에 유용합니다.

JASCO FTIR Vacuum Optical System
Semiconductor & Thin Film Analysis
정밀 FTIR 측정과 반도체 분석 시스템의 확장

FTIR은 Silicon Wafer, Thin Film 및 반도체 소재의 화학적 특성을 분석하는 데 활용할 수 있습니다.

FT/IR-8X의 Vacuum 광학계, 넓은 파수 영역 및 IR Microscope를 조합하면 분석 목적에 따라 Transmission, Reflection, Microscopic FTIR 및 Mapping 시스템으로 확장할 수 있습니다.

Si Wafer · Thin Film · Surface · Micro FTIR
반도체 분석 Solution 자세히 보기 →
FT/IR-8X의 핵심 기능
55,000 : 1 Signal-to-Noise

높은 S/N을 기반으로 미약한 흡수 신호를 확인해야 하는 연구 측정에 대응합니다.

0.07 cm⁻¹ Resolution

인접한 Peak 및 미세한 분광 구조를 구분해야 하는 고분해능 연구를 지원합니다.

Step Scan · Up to 10 ns

반복 가능한 transient 현상을 외부 Trigger와 동기화하여 nanosecond 영역의 시간분해 측정으로 확장할 수 있습니다.

Rapid Scan

시간에 따라 변화하는 Spectrum을 연속적으로 측정하여 반응 거동을 추적할 수 있습니다.

25,000 – 20 cm⁻¹ Extension

옵션 광학계를 통해 Near-IR부터 Far-IR까지 측정 영역을 확장할 수 있습니다.

Vacuum Optical System

대기 H₂O 및 CO₂의 영향을 줄여 정밀 분광 및 Far-IR 측정을 지원합니다.

Spectra Manager™

Spectra Manager™를 이용하여 장비 제어, Spectrum 측정 및 데이터 분석을 하나의 소프트웨어 환경에서 수행할 수 있습니다.

Method 저장, Navigation 및 Self-Diagnosis 기능을 활용하여 반복 측정과 장비 운용을 체계적으로 관리할 수 있습니다.

측정 중에도 지정한 데이터 처리 명령을 실행할 수 있어 Spectrum 수집과 분석 workflow를 효율적으로 구성할 수 있습니다.

JASCO Spectra Manager FTIR Software

FT/IR-8X 주요 사양
JASCO FT/IR-8X
Standard Wavenumber Range 7,800 – 350 cm⁻¹
Optional Wavenumber Range 25,000 – 20 cm⁻¹
Maximum Resolution 0.07 cm⁻¹
Signal-to-Noise Ratio 55,000 : 1
Rapid Scan Option
Step Scan Option / Up to 10 ns
Vacuum Optical System Option
IR Microscope Compatible
FT/IR-8X가 필요한 연구인지 확인해보세요.

필요한 분해능, 반응 시간 영역, Vacuum 여부와 시료 조건을 알려주시면 FT/IR-6X와 8X 중 적합한 모델과 검출기 및 액세서리 구성을 검토해드립니다.

제품 및 시스템 문의 →
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약관

약관내용